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磁粉探伤中退磁后常使用什么来检测剩磁效果
2016/3/11

现今在磁粉探伤中一般选用高斯计及毫特斯拉计来检测磁粉探伤仪或磁粉探伤机、退磁机的退磁效果,那么这类检测退磁的计量仪器它们的原理是什么呢?

我们现在对于工件表面的剩磁要求是低于2GS,对于这么小的数值,需要比较灵敏的元器件来检测,在最早是利用霍尔传感器来检测。

其原理是通电的片状N型半导体的平面与磁场强度为H的磁场相互垂直,后在片状N型半导体的非通电侧形成霍尔电位差UH,其三者之间的关系为UH=RHµHI/δ,其中δ为半导体板的厚度,RH霍尔系数,µ为磁导率。

利用此原理制成的高斯计及毫特斯拉计测量精度高,测量结构简单,可直观显示缺陷磁场的大小和方向。

后期又发现可以利用磁敏二极管来代替霍尔传感器制成精度更高的高斯计及毫特斯拉计。

其原理是磁感应强度在0.1T以下时,磁敏二极管输出特性曲线近似线性关系,其性能相当于普通二极管的PN结特性。

利用此原理制成的高斯计及毫特斯拉计测量精度更高,测量结构简单。

以上就是磁粉探伤中一般选用高斯计及毫特斯拉计来检测磁粉探伤仪或磁粉探伤机、退磁机的退磁效果的原因。

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